?我們知道在當(dāng)前多目標(biāo)地球化學(xué)調(diào)查樣品中要求分析54 個元素，與以往 1 : 20 區(qū)域化探樣樣品中 39 個元素的分析，增加了 15 個組分，其中 C、N、S、Cl 、Br、Sc、Ga、Rb 等元素列于其中。在這些元素的測定中，C、N 和 S 用 燃燒法；Cl、Br 用 離子色 譜法；Hf、Ga、Cl 等元素也要經(jīng)過復(fù)雜 的化學(xué)處理，不但要占用大量的人力和設(shè)備，而且成本高，耗時太長，不能適合大批量樣品的測定要求。據(jù)伊
手持式XRF礦石元素分析儀分析儀不支持在地質(zhì)樣品中直接低水平測量Au（例如，低ppm和ppb）?；趯?shí)驗(yàn)室的火試驗(yàn)技術(shù)通常被認(rèn)為是Au分析的首選方法。Au L級X射線位于X射線熒光能譜的非常擁擠的區(qū)域中。在該部分光譜中，來自其他元素（例如，As，Zn，W和Se）的干擾可以產(chǎn)生假陽性Au測定。
造山金 S, As, CO2, K+/– Sb, Te, Mo, W, Cu, Pb, Zn, Hg；
高硫化淺成熱液 Ag, Cu, Te, Mo, Bi, Sn；
低硫化淺成低溫?zé)嵋?Zn, Hg, Se, K, As, Sb, Ag/Au；卡林型 As, Sb, Hg, Tl；
斑巖銅金 ?Cu, Pb, Zn, Ag；Au Skarns Bi, Te, As, Co；
侵入性相關(guān)金 Bi, W, As, Sb, Mo, Te；VHMS Cu, Pb, Zn, Ag, Ba, K, Mg +/–CO2；氧化鐵 Cu-Au (U) F, P, Co, Ni, As, Mo, Ag, Ba, U, LREE高純度的金 高純度的 Au +/– 以上任何一種
? ? ?奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀提供高性能的實(shí)時地球化學(xué)數(shù)據(jù)，用于土壤重金屬，巖石成分和礦石品位和元素含量的分析。奧林巴斯X射線熒光（XRF）礦石分析儀技術(shù)的最新進(jìn)展增加了測量元素的數(shù)量，提高了檢測限，并縮短了分析測試時間。
? ? 1.通過XRF礦石元素分析儀分析土壤重金屬，巖石和礦石中的元素，快速顯示潛在的Au礦分布情況；
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? ? 2.通過使用XRF礦石元素分析儀預(yù)篩選樣品，優(yōu)先樣品選擇，分析預(yù)算和選定鉆孔目標(biāo)；
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? ? 3.通過XRF礦石元素分析儀繪制結(jié)構(gòu)特征圖，建模和矢量化，減少稀釋和做好金礦的回收；
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? ? 4.通過使用XRF礦石元素分析儀進(jìn)行巖石地球化學(xué)的簡單和快速巖石類型分析。
